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硅片缺陷观测仪 硅片划痕崩边分析仪 硅片位错层错检测仪

  • 简单描述
  • 适用于对硅片的缺陷观察效果,非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等;

    使硅片缺陷观察工作简单化,准确化,同时极大程度降低此项工作强度;

    实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵
  • 产品型号:  JC06-WDI
  • 更新时间:  2025-10-12
  • 访问次数:  1794
详细介绍

硅片缺陷观测仪 硅片划痕崩边测定仪 硅片位错层错检测仪

型号JC06-WDI

硅片缺陷观测仪于对硅片的缺陷进行观察,效果非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。

实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备,能更好的观测和保存研究结果;

硅片缺陷观测仪-产品特点

适用于对硅片的缺陷观察效果,非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等;

使硅片缺陷观察工作简单化,准确化,同时极大程度降低此项工作强度;

实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备,能更好的观测和保存研究结果;

使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有体积小,技术*,像素较高, 成像清晰 、线条细腻、色彩丰富;

传输接口为 USB2.0 高速接口, 软件模块化设计

有效分辨率为 200 万像素;

所配软件能兼容 windows 2000 windows XP 操作系统。

 

北京北信科仪分析仪器有限公司

地址:北京市昌平区西三旗龙旗广场2号楼

:李

 

http://www.bxequ.com


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